隨著經濟的發展和社會生活水平的提高，真空鍍膜技術在越來越多的領域使用，如何監控淀積的膜厚，目前采用石英晶體振蕩監控法和光學膜厚監控法，我司多年來的經驗與同仁共同控討。
石英晶振片原理
石英晶體法監控膜厚，主要是利用了石英晶體的壓電效應和質量負荷效應。當晶振片上鍍了某種膜層，使晶振片的厚度增加，則晶振片的固有頻率會相應的變化。
顯然晶體的基頻越高，控制的靈敏度也越高，但基頻過高時，晶體片會做得很薄，很薄的晶體片易碎，一般選用AT切型頻率5～10MHz。采用AT切晶體片，其振動頻率對質量的變化極其靈敏，但卻不敏感于溫度的變化，具有精度高、靈敏度好等*的優勢，非常適合于真空薄膜淀積中的膜厚監控。
