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HY（IC）卡片材料彎扭試驗機技 術 參 數:本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO...

南京IC卡動態彎扭試驗機產品用途： 用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

IC卡動態彎曲試驗機產品用途： 用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 采用先進的同步帶傳動，非接觸式光電計數，15...

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩...

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩...

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩...