【儀表網 儀表標準】近日，根據市場監管總局辦公廳關于下達《2020年國家計量技術規范制定、修訂及宣貫計劃》的通知，由中國計量科學研究院為主等單位承擔了《波長色散×射線熒光光譜儀校準規范》的修訂工作，目前該校準規范征求意見稿等文件現已完成。
 

　　為了使上述國家計量技術規范能廣泛適用和更具操作性,特向全國各有關單位征求意見,希望專家們在百忙之中抽出時間對征求意見稿提出寶貴意見和建議。征求意見截止時間為 2021年02月10 日。意見或建議可以通過郵件： fenglx@nim.ac.cn和 mengjr@simt.com.cn
 

　　據悉，JJG 810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀》國家計量檢定規程自1993年2月實施至今已將近30年。
 

　　然而，隨著波長色散X射線熒光光譜儀技術的發展，儀器本身的部件及功能也有了長足的改進。在儀器整機方面，與20 世紀80 年代的儀器相比，現在儀器的體積縮小到原來的二分之一以下，重量更是大大減輕。儀器功能方面，在元素譜峰的平滑、譜峰的查找、背景的扣除、峰值的剝離、多重譜線顯示等方面均提供了多種有效的功能，此外，數據處理系統的“智能化”程度也越來越高。
 

　　總之，隨著技術的進步，近年來波長色散X射線熒光光譜的儀器性能已經有了長足的發展，其性能指標也是越來越高。而《JJG 810-93波長色散X射線熒光光譜儀》計量檢定規程已實施了二十五年，一些技術性能指標都是針對七八十年代生產的儀器所制定的，就目前的儀器現狀和計量術語要求來看，規程不太適應，而且也沒有體現該儀器作為計量器具所具有的特點。更為重要的一點是，原JJG 810-93規程的檢定指標中并沒有體現溯源性，也沒有相關標準物質的信息，難以保證終測量結果的準確性和有效性。
 

　　綜上所述，原規程已不適應目前廣泛使用的波長色散波長色散X射線熒光光譜儀的檢定要求，所以要對原規程進行適當的修訂，使之能適用于當前計量檢定的需要。
 

　　與JJG 810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》相比，除編輯性修改外，本規范的主要技術變化如下：
 

　　— 增加引言作為必備內容；
 

　　— 對精密度的技術指標及校準方法進行了修改；
 

　　— 對穩定性的技術指標及校準方法進行了修改)；
 

　　— 增加了靈敏度技術技術指標及校準方法；
 

　　— 對計數線性的技術指標進行了修改。
 

　　波長色散X射線熒光光譜儀用于固體、粉末或液體物質的元素分析，其測定范圍可從0.0001%~100%(w/w)。工作基本原理是X射線管發出的初級X射線激發樣品中的原子內層電子躍遷產生空穴，外層軌道電子填補這一空穴時產生特征X熒光射線，通過晶體分光并用探測器對特征X射線進行測量，根據各種元素特征X射線的波長和強度進行元素的定性和定量分析。
 

　　《波長色散 X 射線熒光光譜儀校準規范》適用于順序型波長色散X射線熒光光譜儀和多道X射線熒光光譜儀(以下簡稱儀器)主要性能指標的校準。（詳情詳見附件）