【儀表網 產品快訊】近日，在SPIE西部光子學2023展覽會上，布魯克公司宣布發布兩款新的白光干涉測量(WLI)系統ContourX-1000和納米柔性1000光學輪廓儀。
這些落地式平臺實現了表面紋理和粗糙度的更快速、自動化的區域測量。具有自動對焦和自動照明功能的全新一鍵式高級查找表面功能改善了用戶體驗，縮短了獲得結果的時間，消除了每次測量前手動注冊表面的復雜性。結合自適應測量模式USI和引導式簡化VisionXpress界面，這種功能可在任何表面上以更高的處理量實現不折不扣的計量。
ContourX-1000具有操作友好的自動化測量和分析配方，為半導體和光電加工、高級封裝開發和醫療設備制造領域的大規模生產設施提供精確的計量。納米柔性1000光學輪廓儀具有大型龍門式和旋轉頭設計，為汽車、醫療和大規模增材制造行業的精密加工QA/QC中的大型零件提供了高精度定位解決方案。
“我從20世紀80年代就開始使用布魯克光學仿形技術，這些新系統是30多年發展的完美結晶，”密歇根計量公司創始人兼總裁Don Cohen說。“對于速度、操作簡便性和可重復測量至關重要的計量實驗室來說，將自動對焦功能集成到獨立系統中是真正的游戲規則改變者。”
“布魯克的光學輪廓儀產品組合具有行業領先的功能、快速的結果和非凡的易用性，”布魯克摩擦學、觸針和光學計量業務高級總監兼總經理Samuel Lesko說。“通過我們新的WLI解決方案，這些功能得到了進一步提升，特別是考慮到非專業用戶在幾秒鐘內獲得高質量結果的潛力，而在普通系統上需要幾分鐘。”
關于ContourX-1000三維光學輪廓儀
ContourX-1000以行業為重點，結合了布魯克的專利傾斜頭、自校準激光參考、集成模式識別和配方便攜性。其通用掃描干涉測量(USI)自適應測量模式可自動確定最佳測量參數，簡化的VisionXpress界面可將分析質量與用戶的經驗水平相分離。這種獨特的硬件和軟件組合能夠以最快的速度獲得最佳的計量結果，并為R&D和制造業帶來最大的穩定性和工具間匹配能力。
ContourX-1000
關于NPFLEX-1000 3D光學輪廓儀
納米柔性1000結合了的所有易用性優勢ContourX-1000具有大形狀因數的門架和堅固的橋結構。這納米柔性1000系統在物鏡下方300 mm的空間、旋轉頭和超長工作距離物鏡下提供了最大的樣品尺寸靈活性。此外，高坡度表面通道通過折疊鏡選項顯著擴展。這種極端的可用性可以在不妥協的速度；在10秒鐘內完成快速、自動化的測量和全面的分析意味著生產環境的吞吐量有了重大提高。
納米柔性1000
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