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CSTM標準《手持式X射線熒光光譜儀校準規(guī)范》征求意見

儀表標準 2022年11月07日 13:06:14來源:儀表網(wǎng) 30011
摘要本文件規(guī)定了基于能量色散 X 射線熒光光譜法原理的手持式 X 射線熒光光譜儀的計量特性、校準條件、校準項目及校準方法、校準結(jié)果表達和復校時間間隔。

  【儀表網(wǎng) 儀表標準】由中國材料與試驗標準化委員會基礎與共性技術(shù)標準化領域委員會歸口承擔的《手持式X射線熒光光譜儀校準規(guī)范》團體標準已完成征求意見稿。按照《中國材料與試驗團體標準制修訂管理細則》的有關要求,現(xiàn)公開征求意見。
 
  手持式 X 射線熒光光譜儀基于能量色散 X 射線熒光光譜法的原理,由 X 射線管發(fā)射出原級 X 射線,入射到樣品,樣品中的待測元素在高能 X 射線的激發(fā)下,產(chǎn)生特征 X 射線,并由高性能 SDD 探測器(硅漂移探測器)接收,經(jīng)過數(shù)據(jù)處理,得到待測樣品中的元素含量。儀器主要由 X 射線管、準直器、探測器、數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)組成。
 
  基于能量色散X射線熒光光譜法原理的手持式 X 射線熒光光譜儀,由于體積小、質(zhì)量輕、分析元素多、檢測快速且無損分析等特點,廣泛應用在原材料判別、礦產(chǎn)勘測、廢舊金屬回收、事故調(diào)查等領域,是不可多得的便攜式現(xiàn)場分析設備。
 
  雖然手持式 X 射線熒光光譜法大多認為是定性或半定量分析方法,但是由于探測器等技術(shù)的進步,儀器的分析靈敏度越來越高,分析精度也可越來越能滿足現(xiàn)場分析的要求。目前已頒布了國家或行業(yè)的相關標準方法,如 GB/T36226-2018,是利用儀器測量不銹鋼中的 Mn、Ni、Cr、Mo、Cu 和 Ti 的方法;EJ/T684-2016 規(guī)定了便攜式能量色散 X 射線熒光分析儀的相關安全及硬件的指標。另外適用于波長色散 X 射線熒光光譜法、火花放電發(fā)射光譜法分析及其他元素成分分析方法的標準物質(zhì)均能適用于手持熒光,這些都為儀器計量性能評價提供了技術(shù)的支持。
 
  盡管手持式 X 射線熒光光譜儀已在國內(nèi)應用多年,被認為是常規(guī)的分析設備,市場的保有量也非常之多,但是目前尚無適合的計量技術(shù)規(guī)范發(fā)布,第三方計量機構(gòu)和校準單位,實驗室無法正確評價儀器的運行狀態(tài)和計量性能。
 
  本文件參照GB/T 1.1-2020《標準化工作導則 第1部分:標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》給出的規(guī)則起草。參考GB/T 13966-2013 分析儀器術(shù)語;GB/T 32267-2015 分析儀器性能測定術(shù)語;GB/T 36226-2018 不銹鋼 錳、鎳、鉻、鉬、銅和鈦含量的測定 手持式能量色散 X 射線熒光光譜法;EJ/T 684-2016 便攜式能量色散 X 射線熒光分析儀;JB/T 12962.1-2016 能量色散 X 射線熒光光譜儀 第 1 部分:通用技術(shù)等規(guī)程編制。
 
  本文件規(guī)定了基于能量色散 X 射線熒光光譜法原理的手持式 X 射線熒光光譜儀的計量特性、校準條件、校準項目及校準方法、校準結(jié)果表達和復校時間間隔。本文件適用于手持式 X 射線熒光光譜儀主要計量性能的校準。
 
  校準環(huán)境條件:
 
  1.環(huán)境溫度:(15~35)℃。2.相對濕度:≤80%。3.儀器應置于穩(wěn)定的試驗臺,避免陽光直射,周圍無腐蝕性氣體、強電場或強磁場干擾。
 
  校準前檢查:
 
  儀器外表面(裝置)應整潔光滑、平整,標識、印字完全清晰;各部件配套齊全且能正常工作,無影響正常測量功能的缺陷。
 
  按照 6.1 中要求儀器開機穩(wěn)定或滿足儀器規(guī)定的其他要求,儀器各項自檢正常,用儀器自帶或特定應用的校正物質(zhì)校正儀器。
 
  能量分辨力:
 
  將 6.2 中的純錳片放置在試驗臺,適當調(diào)節(jié)管壓和管流,測量 Mnkα的特征譜。讀取 Mnkα的后半峰能量與前半峰能量之差即為能量分辨力,單位電子伏(eV)。亦可按照儀器規(guī)定的質(zhì)控樣品和方法測量能量分辨力。對于某些不能讀取圖譜的儀器可以免做此項。
 
  校準結(jié)果表達:
 
  校準原始記錄需注明校準時的環(huán)境條件、計量器具、儀器條件參數(shù)、各項校準原始數(shù)據(jù)等,見附錄B。校準證書或校準報告上應給出校準結(jié)果及測量結(jié)果不確定度,見附錄 C。現(xiàn)場校準應注明“現(xiàn)場校準”。校準結(jié)果的表達應按照 JJF 1071 中 5.12 的規(guī)定。
 
  復校時間間隔:
 
  復校時間由實驗室自定,建議不超過1年。在此期間,如果儀器經(jīng)過大修、移動及其他需要校準時,應重新校準。
 
  更多詳情請見附件。

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