摘要測量主軸采用優(yōu)化方形設(shè)計(jì)，確保測量時運(yùn)動性能的穩(wěn)定性；擁有多種功能強(qiáng)大的附件可選，能滿足不同測量要求；光柵照明系統(tǒng)采用低電壓、小電流、體積小、壽命 長的紅外發(fā)光器件做光源；儀器采用了高精密的測量系統(tǒng)，符合阿貝原理，測量精度高；采用進(jìn)口光柵系統(tǒng)，精度高，穩(wěn)定可靠；測 量...

摘要 LS103A光學(xué)透過率測量儀 玻璃/太陽膜/鍍膜玻璃透光率檢測儀

摘要三維光學(xué)密集點(diǎn)云測量系統(tǒng)I0M400與傳統(tǒng)的三坐標(biāo)測量儀和激光三維掃描儀相比，是一種高速高精度的三維掃描測量設(shè)備，系統(tǒng)具有速度快、精度高、易操作、可移動等特點(diǎn)，系統(tǒng)的軟件和硬件可以根據(jù)需要專門進(jìn)行開發(fā)和設(shè)計(jì)，技術(shù)實(shí)用性強(qiáng)，廣泛適用于各種需求三維數(shù)據(jù)的行業(yè)，如汽車工業(yè)、...

摘要中圖儀器SuperViewW白光干涉三維光學(xué)形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科...

摘要 SuperViewW國產(chǎn)白光干涉三維形貌儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量?？蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

摘要 MEDICAS紅外熱成像相機(jī)配備一個像素分辨率為640×512px的LWIR短波紅外微測輻射熱敏傳感器，并提供一個用于獲得熱成像的RGB相機(jī)（1920x1080像素全高清分辨率）

摘要 WIRISPro配備一個LWIR長波紅外微測輻射熱傳感器，分辨率為640×512像素（在7.5-13.5μm范圍)，超分辨率模式可以提供高達(dá)1266x1010像素的熱成像圖，熱敏相機(jī)可以測量高達(dá)1500°C的溫度

摘要GTS機(jī)器人空間位置精度激光追蹤儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)測量機(jī)，是同時具高精度（μm級）、大工作空間（百米級）的高性能光電測量儀器，被廣泛應(yīng)用在飛機(jī)、汽車、船舶、航天、機(jī)器人、核電、軌道交通裝備制造行業(yè)以及大型科學(xué)工程、工業(yè)母機(jī)的高精密加工和裝配中，已成為多...

摘要SuperViewW白光干涉三維形貌輪廓儀納米級分辨率，非接觸式測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、...

摘要 SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統(tǒng)以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

摘要 中圖臺式掃描電鏡用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

摘要 SuperViewW系列白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要 CEM3000大樣品倉臺式掃描電鏡用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析，臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時呈現(xiàn)所得結(jié)果。

摘要 不同于立式電鏡，CEM3000國內(nèi)高分辨率臺式掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時呈現(xiàn)所得結(jié)果。

摘要 光伏組件檢測儀內(nèi)置存儲空間，可以保存大量的EL圖像。通常采用可充電鋰電池供電，保證長時間工作。

摘要 el缺陷檢測儀支持連續(xù)拍攝模式，可以在短時間內(nèi)完成多塊組件的檢測。配備高靈敏度的攝像頭，能夠清晰地顯示細(xì)微的缺陷。

摘要 光伏板檢測儀器通常配有觸摸屏或簡單的按鈕控制，方便設(shè)置參數(shù)和啟動檢測。能夠迅速獲取高質(zhì)量的EL圖像，提高工作效率。

摘要 便攜式el檢測儀設(shè)計(jì)輕巧，便于攜帶到不同地點(diǎn)進(jìn)行現(xiàn)場檢測。適合于戶外作業(yè)，適用于各種安裝環(huán)境下的光伏系統(tǒng)檢查。

摘要 SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

摘要 SuperViewW白光干涉微觀三維形貌測量儀測量單個精細(xì)器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

摘要 SuperViewW納米級微觀三維形貌3D白光干涉儀主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度納米量級白光干涉測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測量單個精細(xì)器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

摘要 中圖儀器白光干涉儀國產(chǎn)三維形貌儀SuperViewW是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.060.3803可用于所有方向手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.045.2603提供優(yōu)異的穩(wěn)定性手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.040.2603具有高精度的角度調(diào)整能力手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.025.1303也可提供電動版本手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.020.1303可從任何方向插入手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0035適應(yīng)不同實(shí)驗(yàn)需求用于安裝直徑 35 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0030耐蝕性較差用于安裝直徑 30 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0025可提供其他直徑的夾頭用于安裝直徑 25 毫米光學(xué)器件的支架

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.110.0000廣泛應(yīng)用于光學(xué)實(shí)驗(yàn)室用于安裝光學(xué)器件的支架，帶中心孔和 M4 攻絲孔

摘要 德國OWIS光學(xué)支架26.065.3803適用于多種光學(xué)元件手動翻轉(zhuǎn)鏡架，適用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏轉(zhuǎn)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架19.100.0076實(shí)現(xiàn)光學(xué)系統(tǒng)的校準(zhǔn)用于未安裝光學(xué)器件的光學(xué)器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.202.0056夾緊直徑為56mmXY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 56 mm

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.202.0045帶2個細(xì)牙螺釘XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 45 毫米

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.100.0050有效保護(hù)光學(xué)元件用于直徑 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架16.100.0040方便地組裝和拆卸用于直徑 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安裝光學(xué)器件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.202.0026用于固定安裝的光學(xué)器件XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.202.0025可安裝在銷軸上XY 調(diào)節(jié)安裝板，帶 2 個細(xì)牙螺釘，用于安裝光學(xué)元件 ø 25 毫米

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.100.0032具有良好的穩(wěn)定性用于直徑 31.5 毫米未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.100.0025與SYS 40一起使用用于直徑 25 毫米/25.4 毫米（1 英寸）未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 德國OWIS光學(xué)支架14.100.0022黑色陽極氧化處理用于直徑 22.4 毫米未安裝光學(xué)元件的支架，包括夾緊環(huán)

摘要 中圖儀器SuperViewW白光三維測量系統(tǒng)基于白光干涉原理，能以3D非接觸方式對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。