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產(chǎn)品分類
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產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2024-12-07簡要描述：LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀，KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042多功能儀器具有精確的測量技術(shù)，操作簡便。還包括通過解鎖代碼進(jìn)行快速現(xiàn)場升級(jí)的選項(xiàng)。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
| KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042技術(shù)數(shù)據(jù) | |
| 串行接口 | 用于將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB |
| 電源 | 通過電池，USB或電源裝置 |
| 測量范圍 | 0-20000 µm（取決于探頭） |
| 測量率 | 每秒高達(dá)2個(gè)讀數(shù) |
| 存儲(chǔ) | 最高 9999個(gè)讀數(shù)（最多140個(gè)文件） |
| 測量不確定度 （校準(zhǔn)后） | 涂層厚度<100 µm：讀數(shù)的1％+/- 1 µm 涂層厚度> 100 µm：讀數(shù)的1.0.3％+/- 1 µm 涂層厚度> 1000 µm：讀數(shù)的3..5％ /-10 µm 涂層厚度> 10000 µm：讀數(shù)的5％+ /- 100 µm |
| KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042附件 | |
| |
CONTACT
辦公地址：深圳市龍崗區(qū)南灣街道沙平北路111號(hào)吉茂大廈608ATEL：0755-28896837
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