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用于可靠性試驗的技術標準

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    2009年03月11日
關鍵詞
可靠性試驗,可靠性試驗機,環境試驗機
上傳者
東莞市貝爾試驗設備有限公司
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資料簡介

 對產品進行可靠性試驗,根據試驗的目的選用什么試驗方法,選用什么試驗條件,如何確定失效判據,如何選擇抽樣方式,zui后對產品進行可靠性評價的結果符合什么可靠性等級,這在現有國內、上制定的各種可靠性技術標準上幾乎都有明確規定。這說明對于電子元器件質量和可靠性水平,在上已有統一的標準。對于電子元器件產品適用于民用、工業用、軍用和宇航用都有相應的標準或相應的等級要求。這為我們開展可靠性試驗提供了方便條件。
用于電子元器件可靠性試驗的主要技術標準如表8.5所列。在表8.5所列的各種標準中,過去美軍MIL標準一直在世界上占主要地位。由于現在在上存在著電子元器件可靠性認證問題,所以IEC標準正逐漸成為主流。我國這方面的標準大多數是參考MIL標準和IEC標準制定的。世界各國的電子元器件生產廠也都按照這些標準規定的方法進行。
表8.5 主要的可靠性試驗方法標準
IEC標準[International Electrotechnical Commission電工委員會]
68號出版物:基本環境試驗法
147-5號出版物:半導體器件的機械及耐氣候性試驗方法
MIL標準[Military Standard(美國軍用標準)]
MIL-STD-202:電子、電器元器件試驗方法
MIL-STD-750:分立半導體器件試驗方法
MIL-STD-833:微電子器件試驗方法
BS標準[British Standard(英國標準)]
BS-9300:半導體器件的試驗方法
BS-9400:IC的試驗方法
JIS標準[Japanese Industral Sandard(日本工業標準)]
JIS C 7021:分立半導體器件的環境試驗方法和疲勞試驗方法
JIS C 7022:半導體集成電路的環境試驗方法和疲勞試驗方法
EIAJ標準[Standard Elcctronic Industries Association of Japan(日本電子機械工業協會標準)]
SD-121:分立半導體器件的環境和疲勞性試驗方法
IC-121:集成電路的環境及疲勞性試驗方法
其它:NASA標準,CECC標準,防衛廳標準,汽車工業標準等  

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