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西安鼎金電子科技有限公司

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雷達物位計測量的條件

閱讀:1573      發布時間:2023-3-20
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注意事項

測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算,但在特殊情況下,若罐低為凹型或錐形,當物位低于此點時無法進行測量。

若介質為低介電常數當其處于低液位時,罐低可見,此時為保證測量精度,建議將零點定在低高度為C 的位置。

理論上測量達到天線的位置是可能的,但是考慮到腐蝕及粘附的影響,測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。

對于過溢保護,可定義一段安全距離附加在盲區上。

最小測量范圍與天線有關。

隨濃度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以將其反射,但在一定的條件下是可以進行測量的 

雷達物位計采用微波脈沖的測量方法,并可在工業頻率波段范圍內正常,波束能量低,可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內,對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大,有惰性氣體及蒸汽存在的場合。

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