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pct老化箱是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
LED具有低電壓、低能耗、長壽命、高可靠性、易維護等優點,已成為照明行業的主流。雖然LED光源已逐步取代其他光源成為照明行業的主流,但其壽命及其可靠性仍有待提高,這已成為現階段的研究重點。
LED光源可靠性通常采取pct老化箱進行一個溫度加速老化試驗,在LED樣品試驗中隨著老化時間的增長,會產生光衰退,而產生光衰退的原因有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。
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