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珠海歐美克儀器有限公司

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納米粒度及電位分析儀在涂覆材料分散性能預測中的應用

閱讀:541      發布時間:2024-9-2
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  隨著科技的進步,納米技術在各個領域的應用日益廣泛,特別是在涂覆材料領域,納米粒度和電位分析儀成為了提升產品質量、優化生產工藝的關鍵工具。本文將以珠海歐美克儀器有限公司的NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀為例,探討其在涂覆材料分散性能預測中的重要作用。
 
  一、NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀概述
 
  NS-90Z Plus是珠海歐美克儀器有限公司在成功引進和吸收馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)納米顆粒表征技術后,進一步優化光學電子測量技術和分析性能推出的一款儀器。該儀器集粒度分析、Zeta電位測定及分子量測量功能于一體,采用動態光散射技術(DLS)、電泳光散射技術(ELS)和靜態光散射技術,能夠全面滿足納米材料研究、制劑開發和生產中的測試需求。
 
  二、NS-90Z Plus在涂覆材料分散性能預測中的優勢
 
  高精度粒度分析:NS-90Z Plus的粒度測量范圍廣泛,從0.3nm到10μm(取決于樣品),能夠滿足不同粒徑涂覆材料的測試需求。其采用的動態光散射技術能夠精確測量粒子在溶液中的運動狀態,從而計算出粒徑分布,為評估涂覆材料的分散性能提供關鍵數據。
 
  Zeta電位測定:Zeta電位是衡量顆粒表面電荷性質的重要指標,對涂覆材料的分散穩定性有直接影響。NS-90Z Plus采用電泳光散射技術,能夠準確測定顆粒的Zeta電位和電位分布,幫助研究人員了解顆粒間的靜電相互作用,從而預測和優化涂覆材料的分散性能。
 
  高靈敏度與重現性:儀器配備的進口雪崩式光電二極管(APD)檢測器、He-Ne氣體激光器光源和高性能相關器等優質硬件,結合內部溫控裝置和密閉光纖光路設計,確保了測量數據的高靈敏度和高重現性。這對于需要精確控制涂覆材料分散性能的工業應用尤為重要。
 
  軟件功能強大:NS-90Z Plus支持SOP標準化操作,具備審計、權限管理及電子簽名功能,符合CFDA GMP《計算機化系統和確認與驗證》要求。同時,其先進的軟件算法能夠智能反饋測試數據質量并提供優化建議,極大地簡化了操作流程,提高了工作效率。
 
  三、應用實例
 
  在涂覆材料的研發和生產過程中,NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀可用于以下方面:
 
  · 分散性能評估:通過測量涂覆材料在不同溶劑或介質中的粒徑分布和Zeta電位,評估其分散性能,為配方優化提供依據。
 
  · 穩定性預測:結合粒徑和Zeta電位數據,預測涂覆材料在不同條件下的穩定性,避免因分散不均導致的質量問題。
 
  · 生產工藝優化:根據測試結果調整生產工藝參數,如攪拌速度、溫度等,以優化涂覆材料的分散性能和最終產品質量。
 
  四、結語
 
  綜上所述,NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀在涂覆材料分散性能預測中發揮著重要作用。其高精度、高靈敏度和強大的軟件功能為涂覆材料的研發和生產提供了有力的技術支持。隨著納米技術的不斷發展,相信這款儀器將在更多領域展現出其**的價值和魅力。
 

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