国产精品无人区无码AV片软件,无码中文av波多野吉衣,污污内射在线观看一区二区少妇,色色av资源网

濟寧儒佳檢測儀器有限公司

涂層測厚儀
超聲波探傷儀
X射線探傷機
X射線探傷附件
全自動底片烘干箱 輻射報警儀 個人輻射報警儀 塑料人革暗袋 小巧型黑白密度計 工業膠片洗片機 塑料暗袋 高亮度工業觀片燈 烘干箱 工業數顯黑白密度計 數顯黑白密度計 筆式輻射劑量儀 探傷標記帶 射線探傷用鉛字 環境巡檢儀 臺式底片觀片燈 個人輻射劑量報警儀 工業暗室照明燈 射線警示燈 儒佳核輻射檢測儀 輻射劑量率儀 小巧便攜式觀片燈 黑白密度片含鑒定證書 射線耗材鉛字本 樂凱工業X射線膠片 磁性貼片框 底片磁性框 暗室紅燈計時器 便攜筆式醫院工業射線測量個人劑量儀報警儀 個人核輻射劑量儀專業射線計量報警儀 便攜式高亮度冷光源LED射線底片看片燈 射線底片觀片燈 工業射線底片觀片燈 底片黑白密度計 工業X射線探傷膠片 工業底片多功能評片儀 455000Lux工業射線底片觀片燈 儒佳128000cd/㎡工業看片燈 冷光源工業觀片燈 工業底片觀片燈 射線底片看片燈 環境輻射檢測儀 X射線探傷增感屏 3、工業射線底片洗片桶 射線探傷用標定尺 符合NB/T 47013-2015國家標準像質計 射線探傷用鉛字鉛字盒 鉛字包射線耗材大全 儒佳 磁性暗袋 非磁性暗袋工業射線探傷底片袋 天津III型工業探傷膠片 溝槽對比試塊 腕式個人劑量計 直流電火花檢漏儀 筆式輻射報警儀廠家直銷 RJ-1200環境輻射檢測儀 底片評片尺 PVC評片尺 射線用耗材大全 金屬增感屏 磁性貼邊框 磁性暗袋 射線探傷暗袋 RJFJ-P1輻射報警儀 個人劑量檢測儀 核輻射檢測儀|輻射檢測儀 音響個人計量儀X射線探傷劑量檢測儀 黑白密度計原理 山東黑白密度計 手持式輻射報警儀 RJ-LED9LED工業觀片燈/評片燈 RJ- LED9工業觀片燈 RJFJ-B1輻射報警儀 RJ-LED86工業底片多功能評片儀 儒佳RJLED-1工業射線底片觀片燈 儒佳RJ-D86、D86A系列底片黑白密度計 黑白密度計 酷目工業膠片 膠片烘干箱 工業恒溫洗片機 工業觀片燈 愛克發工業膠片
磁粉探傷儀
磁粉探傷耗材
滲透探傷耗材
紫外線燈/黑、白光照度計
硬度計
光譜儀
電火花檢測儀
超聲波探頭
超聲波試塊
觀片燈
紅外測溫儀
氣體檢測儀
理化檢驗及其它檢測
其它未分類
儀器儀表
超聲波測厚儀

超聲波探傷應用技巧分析

時間:2020/12/29閱讀:524


 

一、鑄件超聲波探傷:

由于鑄件晶粒粗大、透聲性差,信噪比低,所以探傷困難大,它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件內部的傳播中,碰到內部表面或缺陷時產生反射而發現缺陷。反射聲能的大小是內表面或缺陷的指向性和性質以及這種反射體的聲阻抗的函數,因此可以應用各種缺陷或內表面反射的聲能來檢測缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。超聲檢測作為一種應用比較廣泛的無損檢測手段,其主要優勢表現在:檢測靈敏度高,可以探測細小的裂紋;具有大的穿透能力,可以探測厚截面鑄件。其主要局限性在于:對于輪廓尺寸復雜和指向性不好的斷開性缺陷的反射波形解釋困難;對于不合意的內部結構,例如晶粒大小、組織結構、多孔性、夾雜含量或細小的分散析出物等,同樣妨礙波形解釋;另外,檢測時需要參考標準試塊。

二、鍛件超聲波探傷:

(一)鍛件加工及常見缺陷:

鍛件是由熱態鋼錠經鍛壓變形而成。鍛壓過程包括加熱、形變和冷卻。鍛件缺陷可分為鑄造缺陷、鍛造缺陷和熱處理缺陷。鑄造缺陷主要有:縮孔殘余、疏松、夾雜、裂紋等。鍛造缺陷主要有:折疊、白點、裂紋等。熱處理缺陷主要是裂紋。

縮孔殘余是鑄錠中的縮孔在鍛造時切頭量不足殘留下來的,多見于鍛件的端部。

疏松是鋼錠在凝固收縮時形成的不致密和孔穴,鍛造時因鍛造比不足而未全溶合,主要存在于鋼錠中心及頭部。夾雜有內在夾雜、外來非金屬夾雜和金屬夾雜。內在夾雜主要集中于鋼錠中心及頭部。

裂紋有鑄造裂紋、鍛造裂紋和熱處理裂紋等。奧氏體鋼軸心晶間裂紋就是鑄造引起的裂紋。鍛造和熱處理不當,會在鍛件表面或心部形成裂紋。

白點是鍛件含氫量較高,鍛后冷卻過快,鋼中溶解的氫來不及逸出,造成應力過大引起的開裂。白點主要集中于鍛件大截面中心。白點在鋼中總是成群出現。

(二)探傷方法概述:

按探傷時間分類,鍛件探傷可分為原材料探傷和制造過程中的探傷,產品檢驗及在役檢驗。

原材料探傷和制造過程中探傷的目的是及早發現缺陷,以便及時采取措施避免缺陷發展擴大造成報廢。產品檢驗的目的是保證產品質量。在役檢驗的目的是監督運行后可能產生或發展的缺陷,主要是疲勞裂紋。

1、軸類鍛件的探傷:

軸類鍛件的鍛造工藝主要是以拔長為主,因而大部分缺陷的取向與軸線平行,此類缺陷的探測以縱波直探頭從徑向探測效果。考慮到缺陷會有其它的分布及取向,因此軸類鍛件探傷,還應輔以直探頭軸向探測和斜探頭周向探測及軸向探測。

2、餅類、碗類鍛件的探傷:

餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主,缺陷的分布主要平行于端面,所以用直探頭在端面探測是檢出缺陷的方法。

3、筒類鍛件的探傷:

筒類鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷的取向復雜。但由于鑄錠中質量差的中心部分已被沖孔時去除,因而筒類鍛件的質量一般較好。其缺陷的主要取向仍與筒體外圓表面平行,所以筒類鍛件的探傷仍以直探頭外圓面探測為主,但對于壁較厚的筒類鍛件,須加用斜探頭探測。

(三)探測條件的選擇:

探頭的選擇:

鍛件超聲波探傷時,主要使用縱波直探頭,晶片尺寸為Φ14~Φ28mm,常用Φ20mm。對于較小的鍛件,考慮近場區和耦合損耗原因,一般采用小晶片探頭。有時為了探測與探測面成一定傾角的缺陷,也可采用一定K值的斜探頭進行探測。對于近距離缺陷,由于直探頭的盲區和近場區的影響,常采用雙晶直探頭探測。

鍛件的晶粒一般比較細小,因此可選用較高的探傷頻率,常用2.5~5.0MHz。對于少數材質晶粒粗大衰減嚴重的鍛件,為了避免出現“林狀回波”,提高信噪比,應選用較低的頻率,一般為1.0~2.5MHz。

會員登錄

X

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~
在線留言