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手持地質(zhì)勘探分析儀-儀表

閱讀:915      發(fā)布時(shí)間:2024-1-9
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   手持地質(zhì)勘探分析儀的工作原理主要是基于無線電波的反射原理和X射線光譜分析技術(shù)。
  
  首先,利用無線電波的反射原理來探測地下或隧道前方未掘進(jìn)處的不同介質(zhì)分布及位置。無線電波在傳播過程中,當(dāng)遇到不同介質(zhì)時(shí),會(huì)發(fā)生反射和折射現(xiàn)象。通過測量反射電磁波的強(qiáng)度和相位差,可以準(zhǔn)確獲取地下礦石、土壤或巖石的信息,進(jìn)而確定其分布和位置。
  手持地質(zhì)勘探分析儀
  
  其次,還采用了X射線光譜分析技術(shù)。X射線管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí),可以激發(fā)樣品中對(duì)應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子,并出現(xiàn)殼層空穴。此時(shí)原子處于不穩(wěn)定狀態(tài),當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將這些特征X射線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號(hào),從而得到待測元素的特征信息。通過分析這些信息,可以確定樣品中元素的種類和含量。
  
  另外,一些還會(huì)采用其他的探測技術(shù),如超高頻電磁波技術(shù)、中子激活技術(shù)等,以進(jìn)一步提高探測的準(zhǔn)確性和精度。
  
  總的來說,手持地質(zhì)勘探分析儀的工作原理是通過多種技術(shù)的綜合應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)對(duì)地質(zhì)材料的無損檢測和分析,為地質(zhì)勘探和資源開發(fā)提供重要的技術(shù)支持。

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