【儀表儀表網 儀表新品】日立分析儀器公司(日立分析儀器)，是日立高新技術公司旗下一家從事分析和測量儀器的制造與銷售業務的全資子公司。近日，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測厚儀 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探測器和新型樣品臺配置。
 

 

　　日立分析儀器XRF鍍層測厚儀系列在電子和金屬表面處理行業已有超過40年鍍層分析的成功經驗。X-Strata920可確保鍍層符合規格要求，并將鍍層過量或過少鍍層廢料造成的浪費減至少。隨著X-Strata功能的擴展，用戶可以通過該儀器進行更多工作。
 

　　這一款新型X-Strata意味著可選擇高分辨率硅漂移探測器(SDD)或正比計數器定制儀器，以優化其性能。此外，它現在擁有四個腔室和基座配置，可處理各種形狀和尺寸的樣品，包括汽車行業中的復雜幾何形狀。
 

　　對于復雜的鍍層結構，SDD可以提供優于正比計數器的優勢，因為它更易分析具有類似XRF特征的元素，例如鎳和銅。這擴大了可以用于分析的元素范圍，包括磷 — 對于化學鍍鎳分析非常關鍵，并且可以更地測量較薄鍍層，例如符合IPC-4552A的納米范圍的金。
 

　　日立分析儀器產品業務發展經理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析儀器產品系列的其他XRF儀器因其未來前景、可靠性和易用性而聞名。SDD的加入以及多種配置選擇能提高我們客戶的分析能力和靈活性，以測量大量零件的復雜鍍層。我們保留了高度直觀的SmartLink軟件，因此任何操作員(無論經驗水平如何)都能夠快速學會使用儀器并獲得準確可靠的結果。我們的鍍層產品，包括FT150微焦斑鍍層測厚儀、手持式XRF光譜儀以及可進行快速便攜式分析的CMI系列，40多年來在鍍層測量領域一直深受信賴，我們很高興能夠提供這些改進成果。”
 

　　(原文標題：日立分析儀器發布新款高分辨率探測器SDD款XRF鍍層測厚儀X-Strata920)