【儀表網 行業標準】近日，國家標準計劃《鎂及鎂合金化學分析方法 第24部分：痕量雜質元素的測定 輝光放電質譜法》編制完成并征求意見，截止時間為2023年8月27日。主要起草單位有國合通用測試評價認證股份公司、國標(北京)檢驗認證有限公司、甘肅精普檢測科技有限公司、昆明冶金研究院、廣東先導稀材股份有限公司、峨嵋半導體材料研究。
 

　　鎂及鎂合金是一種重要的金屬材料。GB/T 13748《鎂及鎂合金化學分析方法》系列標準是鎂及鎂合金化學分析方法基礎標準。為了更好的滿足行業對鎂及鎂合金研發、生產和檢測的需求，有必要制訂更為完善的系列分析方法標準，在行業內形成統一的測試評價體系，增加檢測結果的可靠性和可比性。該系列標準在鎂及鎂合金產品研發、貿易結算、化學元素比對、標準物質研制等多領域應用廣泛，為我國鎂及鎂合金產品研發、生產、貿易等提供重要的數據支撐作用。
 

　　GB/T13748《鎂及鎂合金化學分析方法》系列標準包含了分光光度法、重量法、原子吸收光譜法、電感耦合等離子體原子發射光譜法、光電直讀光譜法、輝光質譜法等多種分析手段。
 

　　輝光放電質譜發具有多元素同時測定、測定范圍廣、檢出限低等特點，能夠滿足高純鎂產品標準的要求，能顧更好地配合純鎂產品的研究開發及應用，有利于材料的質量提升及性能改進。對材料的研制、生產以及應用過程中的質量控制具有重要意義，能夠進一步健全和完善我國現行的高純鎂產品的評價。對助力我國高純鎂產業的生產、貿易需求，能夠起到十分重要的作用。
 

　　輝光放電質譜法采用固體樣品直接進樣，樣品作為陰極，陰極與陽極間充入惰性氣體(一般是氬氣)，在兩極間加上千伏特電壓，氬氣電離產生的氬陽離子在電場的作用下加速移向陰極(即樣品表面〉撞擊樣品表面使之發生濺射，濺射使樣品原子化，原子化的樣品擴散至等離子體中進一步離子化。由于原子化與離子化是分離的，分別在靠近樣品表面的陰極暗區和靠近陽極的負輝區，使基體效應大大降低，在沒有標樣的情況下也能給出較準確的元素分析結果。
 

　　本文件規定了高純鎂中痕量雜質元素含量的測定方法。本文件適用于高純鎂中痕量雜質元素含量的測定。測定范圍：氟、硫、氯、溴為50μg/kg~5000μg/kg，其他元素為10μg/kg~5000μg/kg。
 

　　高純鎂具有比重低、耐高溫、耐磨等特點，在特種合金、軍事、化工、航天、試驗室等領域有重要應用。高純的鎂錠產品主要分為:特純鎂錠(99.99%)、高純鎂(99.98%)、特級鎂錠(99.96%)及一級鎂錠(99.95)以及特殊要求單項的鎂錠，其產品主要應用于核電所需的高純材料的還原、航空航天用鎂合金鑄造、高性能高清潔度鎂合金的配制等。
 

　　高純中元素的成分和含量直接影響材料的性能。元素對材料力學性能的影響大致分為三類:(1)可同時提高合金強度與塑性的元素，以提高強度為主的作用順序:Al、Zn、Ca、Ag、Ce、Ga、Ni、Cu等;以提高塑性為主的作用排序:Ga、Zn、Ag、Ce、Ca、Al、Ni、Cu。(2)主要提高塑性而強度影響很小的元素有Cd、T1、Li等。(3)提高強度而降低塑性的元素有Sn、Pb、Bi、Sb等。因此，需要研究和建立快速準確測定高純鎂中痕量元素含量的分析方法及標準，對于研究高純鎂材料理化性能、控制產品質量等具有十分重要的意義。